发明名称 PROBE STRUCTURE AND ASSEMBLY FOR CONTRACTING PROBE STRUCTURE
摘要 탐침 구조체가 개시된다. 탐침 구조체는 베이스층; 상기 베이스층의 상면에 형성되고, 상기 베이스층의 상면에서 서로 이격된 상태로 배치된 복수의 탐침 패턴; 상기 베이스층 및 상기 복수의 탐침 패턴을 덮는 절연층; 상기 탐침 패턴의 상면에 형성되고, 상기 탐침 패턴의 상면에서 서로 이격된 상태로 배치되며, 상기 절연층을 관통하여 외부로 일부가 노출된 복수의 범프들; 및 상기 베이스층의 하면에 형성되고, 상기 베이스층을 지지하며, 상기 베이스층의 변형을 방지하는 기판을 포함한다.
申请公布号 KR20170008531(A) 申请公布日期 2017.01.24
申请号 KR20150099834 申请日期 2015.07.14
申请人 구철환 发明人 구철환;이호택
分类号 G01R1/067;G01R1/073;G01R31/26 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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