| 摘要 |
안테나 엔지니어링 파라미터를 측정하는 방법 및 장치가 개시된다. 상기 방법은, 측정 장치가, 제1 위치에서 안테나를 촬영하는 것에 의해 획득된 제1 영상을 획득하는 단계(101); 측정 장치가, 제1 삼차원 공간 좌표계에 있으며 M 개의 특징점과 매핑 관계를 가지는 M 개의 삼차원 공간점을 획득하기 위해, M 개의 특징점을 제1 삼차원 공간 좌표계에 매핑하는 단계(102); 및 측정 장치가, 제1 각도에 따라 안테나의 다운틸트를 획득하거나, 및/또는 제2 각도에 따라 안테나의 방위각을 획득하는 단계(103)를 포함할 수 있으며, 제1 영상은 안테나 상의 적어도 M 개의 특징점을 포함하고, M 개의 특징점은 안테나의 표면상의 특징점이며, M 개의 특징점은 동일 평면에 있으나 동일 직선상에 있지 않으며, M은 2보다 큰 양의 정수이다. 상기 방법, 장치 그리고 시스템은 획득된 안테나 엔지니어링 파라미터의 정밀도를 향상시킴으로써 신호의 수신 및 송신 성능을 향상시키는 기초를 제공한다. |
