发明名称 半導体装置
摘要 【課題】多重に形成したシールリング間をブリッジパタンで等間隔に接続したシールリング領域を備える半導体装置において、ブリッジパタンの局所的な配置調整が不適切な場合、半導体装置の信頼性低下が懸念される。【解決手段】半導体装置(1)は、第1間隔(ds1)で所定数配置されたブリッジパタン(br)を有する第1グループ(Gse1)と、前記第1グループから第2間隔(ds2)離れた位置に、前記第1間隔で所定数配置された前記ブリッジパタンからなる第2グループ(Gse2)と、を有し、前記第2間隔は前記第1間隔より大きく設定される。【選択図】図2
申请公布号 JP2017017351(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20160199883 申请日期 2016.10.11
申请人 ルネサスエレクトロニクス株式会社 发明人 齋藤 琢巳;廣井 政幸
分类号 H01L21/3205;G06F17/50;H01L21/768;H01L21/82;H01L21/822;H01L23/522;H01L27/04 主分类号 H01L21/3205
代理机构 代理人
主权项
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