发明名称 検査装置
摘要 セル部の周辺に形成されたペリ部の相違に関係なく、正確に欠陥を検出可能な検査装置が実現される。ウエハ上に配列されたダイ201〜2N1は互いに同一の仕様で製作されており、互いに同一のパターンが繰り返して製作された複数のセル部202〜20nが形成されている。セル部とセル部との間にはペリ部が形成されている。ペリ部はパターンA、B、Cのように、複数種類となっているため、互いに同一形状のセル部であっても、周辺のペリ部の相違により影響を受けて断面イメージが異なるものとなる場合がある。そこで、ペリ部近傍のセル部領域で虚報が発生することを防止するため、周辺ペリ部が同一のセル部どうしを位置合わせして差分を検出し、欠陥の有無を判断することにより虚報の発生を防止する。
申请公布号 JPWO2014112290(A1) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20140557371 申请日期 2013.12.19
申请人 株式会社日立ハイテクノロジーズ 发明人 山下 裕之
分类号 G01N21/956 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
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