发明名称 装置の作製方法及びELモジュールの作製方法
摘要 【課題】半導体素子の作製時に用いた基板から、半導体素子を含む素子形成層を剥離するときに、剥離によって発生した静電気による放電を抑える。【解決手段】基板10上に剥離層12、素子形成層11を形成する。素子形成層11の上面には、後で剥離可能な支持基材13が固定される。支持基材13を介して、素子形成層11を変形させ、素子形成層11と剥離層12の界面で剥離を生じさせる。剥離によって逐次現れる素子形成層11および剥離層12が純水などの液体15で濡れるように、液体15を供給しながら剥離を行う。液体15により素子形成層11および剥離層12の表面に発生した電荷が拡散され、剥離帯電による放電をなくすことができる。【選択図】図3
申请公布号 JP2017017337(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20160189892 申请日期 2016.09.28
申请人 株式会社半導体エネルギー研究所 发明人 江口 晋吾;門馬 洋平;谷 敦弘;廣末 美佐子;橋本 健一;保坂 泰靖
分类号 H01L21/02;H01L27/12;H01L51/50;H05B33/10 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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