发明名称 穀粒の品質測定装置
摘要 【課題】穀粒の形態に応じて光路長を自動変更することで、各種形態の穀粒の品質測定を精度良くかつ効率的に行うことが可能な穀粒の品質測定装置を提供する。【解決手段】筐体の上部に設けられて穀粒が投入されるホッパと、該ホッパ内に投入された穀粒をその回転により搬送するインペラと、該インペラの下方に配設され所定量の穀粒が収容可能な試料測定部と、該試料測定部内の穀粒の品質を光学的に測定する測定手段と、ホッパに投入される穀粒の形態に応じて測定手段による透過光の光路長を変更可能な制御装置と、を備えることを特徴とする。光路長の制御は、光路長調整部材の電動による位置調整で行われる。【選択図】 図1
申请公布号 JP2017015720(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20160168623 申请日期 2016.08.30
申请人 静岡製機株式会社 发明人 石津 裕之;青島 由武;福元 義高;殿柿 章子
分类号 G01N21/3563;G01N21/359 主分类号 G01N21/3563
代理机构 代理人
主权项
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