发明名称 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
摘要 【課題】電子部品の表面の傷の有無の判定を適切に行うことができる電子部品搬送装置および電子部品検査装置を提供すること。【解決手段】電子部品搬送装置は、電子部品の表面状態の情報を取得可能な表面状態取得部を有し、前記電子部品の表面状態の情報を取得するときは、振動が発生する振動発生部の少なくとも1つの振動を、前記表面状態の情報を取得する前の振動よりも小さくする。また、前記電子部品の表面状態の情報を取得するときは、前記電子部品は、前記電子部品を載置し搬送可能な搬送部に載置されている。【選択図】図1
申请公布号 JP2017015479(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20150130826 申请日期 2015.06.30
申请人 セイコーエプソン株式会社 发明人 桐原 大輔
分类号 G01R31/26;G01N21/84 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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