发明名称 電界効果トランジスタ
摘要 電界効果トランジスタは、p型Si基板上に形成された、AlxGa1−xN(0≦x≦1)からなるコドープ層と、コドープ層の上に形成されたGaN層と、GaN層の上に形成されたAlGaN層とを備え、コドープ層は、不純物元素としてCとSiとを含み、コドープ層におけるCの不純物濃度は5×1017/cm3以上であり、コドープ層におけるSiの不純物濃度はCの不純物濃度よりも低く、GaN層におけるCの不純物濃度は1×1017/cm3以下であり、GaN層の膜厚は0.75μm以上である。
申请公布号 JPWO2014108946(A1) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20140556210 申请日期 2013.10.31
申请人 パナソニックIPマネジメント株式会社 发明人 田中 健一郎;好田 慎一;石田 昌宏;上田 哲三
分类号 H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812 主分类号 H01L21/338
代理机构 代理人
主权项
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