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发明名称
電界効果トランジスタ
摘要
電界効果トランジスタは、p型Si基板上に形成された、AlxGa1−xN(0≦x≦1)からなるコドープ層と、コドープ層の上に形成されたGaN層と、GaN層の上に形成されたAlGaN層とを備え、コドープ層は、不純物元素としてCとSiとを含み、コドープ層におけるCの不純物濃度は5×1017/cm3以上であり、コドープ層におけるSiの不純物濃度はCの不純物濃度よりも低く、GaN層におけるCの不純物濃度は1×1017/cm3以下であり、GaN層の膜厚は0.75μm以上である。
申请公布号
JPWO2014108946(A1)
申请公布日期
2017.01.19
申请号
JP20140556210
申请日期
2013.10.31
申请人
パナソニックIPマネジメント株式会社
发明人
田中 健一郎;好田 慎一;石田 昌宏;上田 哲三
分类号
H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812
主分类号
H01L21/338
代理机构
代理人
主权项
地址
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