发明名称 電気検査装置および配線基板の電気検査方法
摘要 【課題】たとえ捨て代領域の幅が狭くても、多数個取り配線基板を安定して保持することができ、正確に電気検査ができる電気検査装置および配線基板の検査方法を提供する。【解決手段】少なくとも1つの挟持手段1と少なくとも1つの電気検査手段2とを備える、多数個取り配線基板3に形成された各配線基板33に対して電気検査を行うための電気検査装置であって、前記挟持手段1が、前記多数個取り配線基板3の外周部に形成された捨て代領域31を挟持するための第1の挟持手段11と、前記多数個取り配線基板3の、捨て代領域31以外の領域を構成する製品形成領域32を挟持するための第2の挟持手段12と、を含み、前記第2の挟持手段12の前記製品形成領域32と接触する挟持部42が、軟質材料で形成される。【選択図】図1
申请公布号 JP2017017069(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20150129056 申请日期 2015.06.26
申请人 京セラ株式会社 发明人 藤原 正
分类号 H05K3/00;G01R31/02 主分类号 H05K3/00
代理机构 代理人
主权项
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