发明名称 電子部品搬送装置および電子部品検査装置
摘要 【課題】電子部品の表面状態の情報を高精度に取得することができる電子部品搬送装置および電子部品検査装置を提供すること。【解決手段】電子部品搬送装置10は、電子部品を載置可能で、第1方向に移動可能な搬送部と、第1方向とは異なる第2方向に移動可能で、搬送部に載置された電子部品の表面状態の情報を取得可能な表面状態取得部と、を有する。電子部品検査装置1は、電子部品を載置可能で、第1方向に移動可能な搬送部と、第1方向とは異なる第2方向に移動可能で、搬送部に載置された電子部品の表面状態の情報を取得可能な表面状態取得部と、電子部品を検査する検査部と、を有する。【選択図】図2
申请公布号 JP2017015481(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20150130828 申请日期 2015.06.30
申请人 セイコーエプソン株式会社 发明人 桐原 大輔
分类号 G01R31/26;G01N21/89 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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