发明名称 低翘曲度的半导体衬底的制备方法
摘要 本发明提供一种低翘曲度的半导体衬底的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:提供第一衬底及第二衬底,所述第一衬底具有相对的第一表面和第二表面,所述第一表面上设置有第一绝缘层,所述第二表面上设置有第二绝缘层,所述第二衬底包括支撑层、支撑层表面的氧化层以及氧化层表面的器件层;以器件层及第一绝缘层为中间层,将第一衬底与第二衬底键合在一起;在所述第二绝缘层表面粘贴形成一保护层,所述第二绝缘层和保护层的作用在于调整所述半导体衬底的翘曲度。本发明的优点在于,在衬底的第二绝缘层表面粘贴保护层,所述保护层能够防止第二绝缘层被腐蚀,从而能有效地降低晶片的翘曲度。
申请公布号 CN103560106B 申请公布日期 2017.01.18
申请号 CN201310590120.7 申请日期 2013.11.22
申请人 上海新傲科技股份有限公司 发明人 叶斐;陈猛;陈国兴
分类号 H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L21/762(2006.01)I
代理机构 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人 孙佳胤;翟羽
主权项 一种低翘曲度的半导体衬底的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:提供第一衬底及第二衬底,所述第一衬底具有相对的第一表面和第二表面,所述第一表面上设置有第一绝缘层,所述第二表面上设置有第二绝缘层,所述第二衬底包括支撑层、支撑层表面的氧化层以及氧化层表面的器件层;以器件层及第一绝缘层为中间层,将第一衬底与第二衬底键合在一起;在所述第二绝缘层表面粘贴形成一保护层,所述第二绝缘层和保护层的作用在于调整所述半导体衬底的翘曲度,所述保护层保护所述第二绝缘层,避免所述第二绝缘层被腐蚀,所述保护层为蓝膜,所述键合步骤后,进一步包括一对第二衬底进行减薄的步骤,以去除所述支撑层,所述减薄步骤之后,进一步包括一腐蚀步骤,以去除所述氧化层。
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