| 主权项 |
用于检测可导电物体的装置(1)，包括线圈配置结构和电子器件(25)，所述线圈配置结构包括：a)第一线圈(10)和第二线圈(11)，该第一和第二线圈在在时间上可变的电流形式的激励时同时产生具有相反极性的磁场(20、21)，所述磁场在设置在相反的磁场的区域内的第三线圈(12)中对激励产生响应；或者b)第一线圈(10)和第二线圈(11)，在该第一线圈和第二线圈中，在第三线圈(12)中的以在时间上可变的电流形式的激励产生对所述激励的响应，在给第一线圈(10)和第二线圈(11)或第三线圈(12)供给以在时间上可变的电流形式的激励期间和/或之后，所述电子器件采集第三线圈(12)对激励的响应或第一线圈(10)和第二线圈(11)对激励的响应；其中，可导电物体(30)在存在于所述磁场的区域中时在所采集的响应中产生可检测的信号，其特征在于，所述电子器件(25)构成为，该电子器件在激励期间和/或在激励之后的多个不同的时间采集响应的时间曲线，并且为此在响应的时间曲线中确定最大点(M)的和/或最小点的和/或交零点(N)的和/或拐点的时刻和/或在最大点(M)的和/或最小点的和/或拐点的时刻的响应和/或确定在激励开始之后预定时刻的响应。 |
