发明名称 一种减弱硅基液晶边缘场效应的方法
摘要 本发明公开了一种减弱硅基液晶边缘场效应的方法,该硅基液晶的主要结构包括硅衬底、像素电极、复合电极、二氧化硅纳米柱、液晶、铟锡氧化物电极、玻璃基板;在硅基液晶工作时,如对中间像素施加电压,对其相邻像素不施加电压。复合电极(7)实现场增强效应,增强中间像素电场;复合电极(5、9)起到静电屏蔽左右,阻止中间像素电场向相邻像素的扩展;二氧化硅纳米柱(6、8)隔断相邻像素的液晶分子的带动作用;从而减弱边缘场效应。
申请公布号 CN103645591B 申请公布日期 2017.01.18
申请号 CN201310711607.6 申请日期 2013.12.23
申请人 东南大学 发明人 杨磊;夏军;张晓兵
分类号 G02F1/1343(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I 主分类号 G02F1/1343(2006.01)I
代理机构 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 代理人 王斌
主权项 一种减弱硅基液晶边缘场效应的方法,其特征在于:在硅衬底上沉积金属作为像素电极(2、3、4) ,在所述像素电极上制备复合电极(5、7、9) ,在像素间隙生长电介质纳米柱(6、8) ,在所述像素电极上蒸镀铝膜作为反射层(10) ,用铟锡氧化物(ITO)导电玻璃作为上基板,在上下基板间灌注液晶;在硅基液晶工作时,对中间像素施加电压,对其相邻像素不施加电压;工作像素上的复合电极(7)实现场增强效应,增强中间像素电场;非工作像素上的复合电极(5、9)起到静电屏蔽作用,阻止中间像素电场向相邻像素的扩展;所述电介质纳米柱 (6、 8) 隔断相邻像素的液晶分子的带动作用,从而减弱边缘场效应。
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