发明名称 System zur Weglängenkalibrierung
摘要 Vorrichtung zum Messen einer optischen Eigenschaft einer Probe, wobei die Vorrichtung Folgendes umfasst: a. eine erste Sockeloberfläche, die gekoppelt ist mit i) einem Schwenkarm und mit ii) einer Lichtquelle; b. einen Magneten; c. eine Grundplatte; d. einen mit der Grundplatte gekoppelten mechanischen Anschlag; e. eine zweite Sockeloberfläche, die mit der Grundplatte mechanisch gekoppelt und zum Aufnehmen einer Flüssigkeitsprobe konfiguriert ist, wobei die zweite Sockeloberfläche mit einem Spektrometer gekoppelt ist, wobei die zweite Sockeloberfläche des Weiteren dazu betätigt werden kann, eine Trennung zwischen der ersten und der zweiten Sockeloberfläche mit einem variablen Abstand (P) zu justieren, um die Flüssigkeitsprobe in eine Säule zu ziehen, sodass sie durch Oberflächenspannung gehalten wird, oder um die Probe während der optischen Analyse zusammenzupressen, wodurch ein optischer Weg für die photometrische oder spektrometrische Messung bereitgestellt wird; f. einen Magnetflusssensor, der zwischen den nördlichen und südlichen magnetischen Flussfeldern des Magneten positioniert ist, sodass der Magnetfluss, der den Sensor erreicht, während sich der mechanische Anschlag in physischem Kontakt mit dem Schwenkarm befindet, einen linearen Ausgangsbereich des Magnetflusssensors bereitstellt; und g. einen Prozessor, der dazu ausgelegt ist, den Punkt für die minimale optische Weglänge zu kalibrieren, indem ein Schwellwert-Magnetflussfeld verwendet wird, das von dem Magneten emittiert und durch den Magnetflusssensor erkannt wird.
申请公布号 DE202016008012(U1) 申请公布日期 2017.01.18
申请号 DE20162008012U 申请日期 2016.12.27
申请人 Thermo Electron Scientific Instruments LLC 发明人
分类号 G01N21/01;G01B7/02;G01N21/31;G01R33/06 主分类号 G01N21/01
代理机构 代理人
主权项
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