发明名称 一种小角度测量的结构光方法
摘要 一种小角度测量的结构光方法,测量系统包括CCD摄像机、显示屏和计算机。在显示屏上显示特征图样,并投影在被测物体或固定在物体上的反射镜,经反射后由摄像机进行拍摄。CCD拍摄记录下反射回来的特征图样,也就是CCD拍摄记录下显示屏由反射镜形成的虚像。当物体发生转动时,摄像机所拍摄的虚像也会发生转动。对转动前后的虚像进行分析,计算出其转动角度。根据光线反射定律,该角度的一半即为物体转动的角度。本发明结构简单、使用方便、灵敏度高,对环境无特殊要求,可在车间环境中进行检测。
申请公布号 CN104180778B 申请公布日期 2017.01.18
申请号 CN201410475833.3 申请日期 2014.09.17
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 赵文川;李璐璐;范斌
分类号 G01B11/26(2006.01)I 主分类号 G01B11/26(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 杨学明;顾炜
主权项 一种小角度测量的结构光方法,其特征在于:测量系统由CCD摄像机、显示屏和计算机组成;首先进行摄像机标定,得到摄像机的内参数;第二步,由计算机产生特征图样,显示在显示屏上,并投影到被测物体或固定在物体上的反射镜,经反射后被摄像机所记录;分析提取得到记录图像中特征点的像素位置,再计算得到此时摄像机相对于虚像的外参数旋转矩阵R<sub>1</sub>;第三步,转动反射镜后,重复第二步中的计算过程,得到摄像机相对于反射镜转动后虚像的外参数旋转矩阵R<sub>2</sub>;第四步,计算得到物体的旋转角度;其中,通过转动前后的相对于虚像的摄像机外参数旋转矩阵R<sub>1</sub>和R<sub>2</sub>求得虚像的转动角度:<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>R</mi><mn>12</mn></msub><mo>=</mo><msubsup><mi>R</mi><mn>1</mn><mrow><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msubsup><msub><mi>R</mi><mn>2</mn></msub></mrow>]]></math><img file="FDA0001055741210000011.GIF" wi="254" he="63" /></maths>R<sub>12</sub>为一个3×3的矩阵,其特征值平方和的根即为虚像的转动角度。
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