发明名称 |
一种利用窄波脉冲验证IC之工艺耐受能力的检测装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种利用窄波脉冲验证IC之工艺耐受能力的检测装置,所述底座的内腔从左到右依次设置有脉冲发生器和电源,所述底座的侧壁安装有控制器,所述底座的上端从左到右依次设置有工作平台和支架,所述支架的上端连接有显示器,所述工作平台的中部开设有凹槽,所述横板的中部开设有圆孔,所述压杆穿过圆孔的下端连接有压块,所述压杆的上端连接有限位提手,所述压杆的中部两侧铰接有位于横板的下方的连接杆,所述连接杆的另一端连接有弹簧,所述弹簧的另一端与压杆连接,所述电源、脉冲发生器、显示器、第一触片和第二触片均与控制器电性连接。本实用新型具有结构简单、检测快速精确等特点。 |
申请公布号 |
CN205898965U |
申请公布日期 |
2017.01.18 |
申请号 |
CN201620763494.3 |
申请日期 |
2016.07.20 |
申请人 |
上海季丰电子有限公司 |
发明人 |
王春亮 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种利用窄波脉冲验证IC之工艺耐受能力的检测装置,包括底座(1)和压杆(14),其特征在于:所述底座(1)的内腔从左到右依次设置有脉冲发生器(3)和电源(2),所述底座(1)的侧壁安装有控制器(4),所述底座(1)的上端从左到右依次设置有工作平台(5)和支架(6),所述支架(6)的上端连接有显示器(7),所述工作平台(5)的中部开设有凹槽(8),所述工作平台(5)上设置有位于凹槽(8)的下端的第一触片(9)和第二触片(10),所述工作平台(5)的上端设置有位于凹槽(8)的两侧的支撑柱(11),两个所述支撑柱(11)的上端设置有横板(12),所述横板(12)的中部开设有圆孔(13),所述压杆(14)穿过圆孔(13)的下端连接有压块(15),所述压杆(14)的上端连接有限位提手(16),所述压杆(14)的中部两侧铰接有位于横板(12)的下方的连接杆(17),所述连接杆(17)的另一端连接有弹簧(18),所述弹簧(18)的另一端与压杆(14)连接,所述电源(2)、脉冲发生器(3)、显示器(7)、第一触片(9)和第二触片(10)均与控制器(4)电性连接。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区祖冲之路1505弄55号5幢1楼 |