发明名称 一种MOS栅控晶闸管
摘要 本发明涉及半导体技术,具体的说是设计一种MOS栅控晶闸管。本发明对P<sup>+</sup>阴极接触区10进行改进,增大了P<sup>+</sup>阴极接触区10的宽度,改变了冶金结形貌,减小了自阴极金属11流入的电子的运输通道。器件正向工作特性受到P<sup>+</sup>阴极接触区10、N阱9组成的JFET的控制,在相对较小的阳极电压下可发生沟道夹断效应,能控制器件饱和电流的大小。P+阴极区接触区10的结深和宽度可根据器件设计要求进行优化取值。本发明尤其适用于MOS栅控晶闸管。
申请公布号 CN103956381B 申请公布日期 2017.01.18
申请号 CN201410190970.2 申请日期 2014.05.07
申请人 电子科技大学 发明人 陈万军;肖琨;程武;杨骋;王珣阳;张波
分类号 H01L29/74(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/10(2006.01)I 主分类号 H01L29/74(2006.01)I
代理机构 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人 李顺德;王睿
主权项 一种MOS栅控晶闸管,其元胞结构包括阳极P区(2),设置在阳极P区(2)下端面的金属化阳极(1),设置在阳极P区(2)上端面的N型缓冲层(3)和设置在N型缓冲层(3)上端面的N<sup>‑</sup>漂移区(4);所述N<sup>‑</sup>漂移区(4)的上层设置有P阱(8)、N阱(9)和绝缘栅,其中P阱(8)和N阱(9)位于中间,两边是绝缘栅;绝缘栅由多晶硅导电材料(6)和位于多晶硅导电材料(6)侧面和底面的栅氧化层(5)组成,多晶硅导电材料(6)的上表面设置有金属化栅极(7);N阱(9)位于P阱(8)的上端面;N阱(9)中包括相互独立的两个P<sup>+</sup>阴极接触区(10),两个P<sup>+</sup>阴极接触区(10)分别与两边的绝缘栅连接;P<sup>+</sup>阴极接触区(10)的上端面设置有金属化阴极区(11);其特征在于,金属化阴极区(11)与N阱(9)的冶金结为矩形;P<sup>+</sup>阴极接触区(10)的间距为0.26μm。
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