发明名称 一种两束干涉仪出射平面波光束间角度偏差标定方法
摘要 本发明公开了一种两束干涉仪出射平面波光束间角度偏差标定方法,包括以下步骤:(1)利用第一干涉仪对平面反射镜进行干涉测量,测量过程中通过调整平面反射镜的角度将干涉条纹调至零条纹;通过激光跟踪仪对平面反射镜面形进行测量,利用测量点拟合第一平面;(2)调整平面反射镜位置,利用第二干涉仪对平面反射镜进行干涉测量,测量过程中通过调整平面反射镜的角度将干涉条纹调至零条纹;通过激光跟踪仪对平面反射镜面形进行测量,利用测量点拟合第二平面;(3)计算第一平面与第二平面出射平面波间的角度偏差。本发明实现对光学系统装调中涉及到的平面波角度标定,具有标定精度高、标定步骤简单的优点。
申请公布号 CN106338261A 申请公布日期 2017.01.18
申请号 CN201610820673.0 申请日期 2016.09.13
申请人 湖北航天技术研究院总体设计所 发明人 闫力松;王辉华;李强;陈晓晨;史要涛;姜永亮;许伟才;王玉雷;胡海力
分类号 G01B11/26(2006.01)I 主分类号 G01B11/26(2006.01)I
代理机构 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人 方放
主权项 一种两束干涉仪出射平面波光束间角度偏差标定方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)利用第一干涉仪对平面反射镜进行干涉测量,测量过程中通过调整平面反射镜的角度将干涉条纹调至零条纹;通过激光跟踪仪对平面反射镜面形进行测量,利用测量点拟合平面,所得第一平面的方程为a<sub>1</sub>x+b<sub>1</sub>y+c<sub>1</sub>z+d<sub>1</sub>=0,(x,y,z)为平面坐标变量,a<sub>1</sub>、b<sub>1</sub>、c<sub>1</sub>、d<sub>1</sub>为拟合系数;(2)调整平面反射镜位置,利用第二干涉仪对平面反射镜进行干涉测量,测量过程中通过调整平面反射镜的角度将干涉条纹调至零条纹;通过激光跟踪仪对平面反射镜面形进行测量,利用测量点拟合平面,所得第二平面的方程为a<sub>2</sub>x+b<sub>2</sub>y+c<sub>2</sub>z+d<sub>2</sub>=0,(x,y,z)为平面坐标变量,a<sub>2</sub>、b<sub>2</sub>、c<sub>2</sub>、d<sub>2</sub>为拟合系数;(3)计算第一平面与第二平面出射平面波间的角度偏差<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>&theta;</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>a</mi><mn>1</mn></msub><msub><mi>a</mi><mn>2</mn></msub><mo>+</mo><msub><mi>b</mi><mn>1</mn></msub><msub><mi>b</mi><mn>2</mn></msub><mo>+</mo><msub><mi>c</mi><mn>1</mn></msub><msub><mi>c</mi><mn>2</mn></msub></mrow><mrow><msqrt><mrow><msubsup><mi>a</mi><mn>1</mn><mn>2</mn></msubsup><mo>+</mo><msubsup><mi>b</mi><mn>1</mn><mn>2</mn></msubsup><mo>+</mo><msubsup><mi>c</mi><mn>1</mn><mn>2</mn></msubsup></mrow></msqrt><mo>&CenterDot;</mo><msqrt><mrow><msubsup><mi>a</mi><mn>2</mn><mn>2</mn></msubsup><mo>+</mo><msubsup><mi>b</mi><mn>2</mn><mn>2</mn></msubsup><mo>+</mo><msubsup><mi>c</mi><mn>2</mn><mn>2</mn></msubsup></mrow></msqrt></mrow></mfrac><mo>.</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0001114098370000011.GIF" wi="678" he="143" /></maths>
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