| 摘要 |
본 발명은 1) 이차 전지 양극 내부에 하기 화학식 1로 표시되는 반복 단위를 갖는 고분자를 매립하여 양극 내부의 기공(pore)을 채우는 제 1단계; 및 2) 이온 밀링(ion milling) 장치를 이용하여 이차 전지 양극에 이온 빔을 조사하여 현미경 관찰용 시료를 제작하는 제 2단계를 포함하는 이차 전지 양극 내부 기공 분포 분석 방법 및 이차 전지 양극 내부 기공 분포 분석용 고분자에 관한 것으로, 본 발명에서 제공하는 양극 내부 기공 분포 분석 방법에 따르면 다른 양극 구성 물질과 기공을 명확하게 구분하여 관찰할 수 있으며, 관찰한 사진을 이용하여 전극의 상층, 중층 및 하층에 따른 기공의 분포를 계산하여 전극 성능을 예상할 수 있는 효과가 있다: <화학식 1>식 중, n은 20 내지 400이다. |
