发明名称 | 一种光学系统波像差测量装置与测量方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种光学系统波像差测量装置和方法,装置包括线偏振平面波发生源、1/2波片、偏振分光棱镜、1/4波片、反射装置以及夏克‑哈特曼波前传感器,线偏振平面波发生源用于产生线偏振平面波;1/2波片用于将线偏振平面波转换后成为s偏振平面波;偏振分光棱镜用于将经1/2波片透射的s偏振平面波反射到1/4波片,并透射来自1/4波片透射的p偏振光;1/4波片用于将来自偏振分光棱镜的s偏振平面波转换成为圆偏振平面波,以及将由来自反射装置的圆偏振平面波转换成为p偏振平面波;反射装置用于使来自1/4波片的圆偏振平面沿原路返回;夏克‑哈特曼波前传感器则用于测量入射到其上的p偏振光的波像差。本发明可以实现各种复杂光学系统波像差的高精度检测。 | ||
申请公布号 | CN104101487B | 申请公布日期 | 2017.01.18 |
申请号 | CN201410373440.1 | 申请日期 | 2014.07.31 |
申请人 | 中国科学院光电研究院 | 发明人 | 卢增雄;齐月静;苏佳妮;杨光华;周翊;王宇 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 宋焰琴 |
主权项 | 一种光学系统波像差测量装置,用于测量待测光学系统的波像差,该测量装置包括偏振分光棱镜、反射装置以及夏克‑哈特曼波前传感器,其特征在于,所述测量装置还包括线偏振平面波发生源、1/2波片和1/4波片,其中,所述线偏振平面波发生源用于产生线偏振平面波;所述1/2波片用于将所述线偏振平面波转换后成为s偏振平面波;所述偏振分光棱镜用于将经所述1/2波片透射的s偏振平面波反射到1/4波片,并透射来自所述1/4波片透射的p偏振光;所述1/4波片用于将来自所述偏振分光棱镜的s偏振平面波转换成为圆偏振平面波,以及将由来自所述反射装置的圆偏振平面波转换成为p偏振平面波;所述反射装置用于使来自1/4波片的圆偏振平面波沿原路返回;所述夏克‑哈特曼波前传感器则用于测量入射到其上的p偏振光的波像差。 | ||
地址 | 100094 北京市海淀区邓庄南路9号 |