| 发明名称 | 用于实时校正导电材料层厚度的镀覆系统及元件载体 | ||
| 摘要 | 一种镀覆系统(100)，用于镀覆导电材料(120)到元件载体(110)的预成形件表面(111a)。镀覆系统(100)包括第一镀覆区域(130)，配置为预镀覆第一部分导电材料(121)到元件载体(110)的预成形件表面(111a)。镀覆系统(100)还包括第二镀覆区域(140)，配置为另外镀覆第二部分导电材料(122)到元件载体(110)的预成形件预镀覆表面(111a)。镀覆系统还包括检测单元(150)，配置为检测指示镀覆在第一镀覆区域(130)中的元件载体(110)的各个预成形件表面部分(111a)上的第一部分导电材料(121)的数量的信息(151)。此外，镀覆系统包括控制单元(160)，配置为根据检测信息(151)控制第二镀覆区域(140)镀覆适量的第二部分导电材料(122)到各个预镀覆表面部分(111b)。 | ||
| 申请公布号 | CN205893446U | 申请公布日期 | 2017.01.18 |
| 申请号 | CN201620095591.X | 申请日期 | 2016.01.29 |
| 申请人 | 奥特斯(中国)有限公司 | 发明人 | N·宝乐-敖平格;Y-B·令 |
| 分类号 | C25D21/12(2006.01)I;G01B15/02(2006.01)I | 主分类号 | C25D21/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京高文律师事务所 11359 | 代理人 | 程义贵 |
| 主权项 | 一种镀覆系统(100)，用于镀覆导电材料(120)到元件载体(110)的预成形件表面(111a)，其中该镀覆系统(100)包括∶第一镀覆区域(130)，配置为预镀覆第一部分导电材料(121)到该元件载体(110)的预成形件表面(111a)；第二镀覆区域(140)，配置为另外镀覆第二部分导电材料(122)到该元件载体(110)的预成形件预镀覆表面(111b)；检测单元(150)，配置为检测指示镀覆在该第一镀覆区域(130)中的该元件载体(110)的各个预成形件表面部分(111a)上的该第一部分导电材料(121)的数量的信息(151)；和控制单元(160)，配置为根据该检测信息(151)控制该第二镀覆区域(140)镀覆适量的该第二部分导电材料(122)到各个预镀覆表面部分(111b)。 | ||
| 地址 | 201108 上海市闵行区莘庄工业园金都路5000号 | ||