发明名称 OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT SYSTEM AND CALIBRATION METHOD FOR OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT SYSTEM
摘要 비교적 짧은 시간에 셋업할 수 있고, 또한 검출 감도를 높일 수 있는 광학 특성 측정 시스템이 제공된다. 광학 특성 측정 시스템은, 제1 측정 장치를 포함하고 있다. 제1 측정 장치는, 하우징 내에 배치된 제1 검출 소자와, 제1 검출 소자에 적어도 부분적으로 접합되며, 검출 소자를 냉각하기 위한 제1 냉각부와, 하우징 내의 검출 소자의 주위에 발생하는 온도 변화를 억제하기 위한 억제 기구를 포함한다.
申请公布号 KR20170006260(A) 申请公布日期 2017.01.17
申请号 KR20160082345 申请日期 2016.06.30
申请人 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 发明人 오사와 요시히로;미즈구치 츠토무;노구치 무네히로
分类号 G01J3/02;G01J1/02;G01N21/359 主分类号 G01J3/02
代理机构 代理人
主权项
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