发明名称 Apparatus for characteristic inspection and classification of chip-type electronic part
摘要 본 발명은, 칩형 전자부품의 전기특성을 검사하고, 상기 검사결과에 근거하여 칩형 전자부품을 분류하는 분류부분을 가지는 칩형 전자부품 특성검사 분류장치를 제공하는 것을 과제로 한다. 상기 분류부분은, 칩형 전자부품(7)을 반송하기 위한 다수의 수용구멍을 복수의 동심원 상에 등분할로 배치한 원반(1)과, 상기 다수의 수용구멍에 대응하며, 칩형 전자부품(7)을 분류하기 위한 토출 에어구멍(601)이 배치된 기준대(6)와, 토출 에어구멍(601)으로부터의 토출 에어에 의해 토출되는 칩형 전자부품(7)을 분류하기 위한 분류구멍(501), 및 분류구멍(501)에 접속된 슛용 튜브(503)를 복수 세트 장착한 분류용 브라켓(5)을 구비하고 있다. 각 분류구멍(501)의 선단부 외주에 유연성을 가진 튜브(502)를 동심에 설치하고, 원반(1)의 분류용 브라켓(5)측의 이동표면과 튜브(502)의 선단의 거리를 칩형 전자부품(7)의 외형치수의 최소값보다 작은 소정의 길이로 유지한 것을 특징으로 한다.
申请公布号 KR101697239(B1) 申请公布日期 2017.01.17
申请号 KR20100088280 申请日期 2010.09.09
申请人 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 发明人 야마모토 테츠야
分类号 G01R31/01;B07C5/344;B07C5/36;H01G13/00 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人
主权项
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