发明名称 Defect inspection apparatus
摘要 결함 검사장치의 일 실시예는, 검사대상체를 촬영하는 촬영부; 상기 촬영부를 둘러싸도록 배치되고, 상기 검사대상체에 조광하는 조명을 포함하고, 상기 조명은 복수로 분할되어 각각 순차적으로 상기 검사대상체에 조광하고, 상기 촬영부는 상기 검사대상체에서 상기 광이 반사되는 부위를 촬영하는 것일 수 있다.
申请公布号 KR20170005600(A) 申请公布日期 2017.01.16
申请号 KR20150095839 申请日期 2015.07.06
申请人 엘지이노텍 주식회사 发明人 송광문
分类号 G01M11/02;G01N21/88;G01N21/958 主分类号 G01M11/02
代理机构 代理人
主权项
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