摘要 |
Im Hinblick auf eine schnelle und sehr genaue Rekonstruktion eines Objekts sind eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bilderfassung einer vorzugsweise strukturierten Oberfläche eines Objekts (6) bereitgestellt, mit mindestens einer Musterprojektionseinheit zur Beleuchtung des Objekts (6) und mindestens einer Abbildungseinheit (7) zur Aufnahme von Bildern projizierter Muster, wobei eine zeitliche und/oder räumliche Auswertung aufgenommener Bilder oder Bildfolgen zur Rekonstruktion der Oberfläche erfolgt. Die mindestens eine Musterprojektionseinheit ist zur Erzeugung von Mustern unter Verwendung einer Beugung von Licht an einem optischen Gitter ausgebildet. Des Weiteren ist das Verfahren zur Bilderfassung dadurch gekennzeichnet, dass anhand der zeitlichen und/oder räumlichen Auswertung der aufgenommenen Bilder oder Bildfolgen über Algorithmen korrespondierende Bildpunkte ermittelt werden, die gemeinsam mit einer Abbildungsfunktion eine Triangulation von Oberflächenpunkten ermöglichen. |