发明名称 基板処理方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
摘要 【課題】親水性ポリマーと疎水性ポリマーとを含むブロック共重合体を用いた基板処理において、基板上に所定のパターンを適切に形成する。【解決手段】ウェハW上にポリスチレン膜404により円形状のパターンを複数形成し、次いでウェハW上にブロック共重合体を塗布する。ブロック共重合体を親水性ポリマー411と疎水性ポリマー412に相分離させる。親水性ポリマー411の分子量の比率は、親水性ポリマー411が円柱形状に配列するように20%〜40%に調整され、ポリスチレン膜404による円形状のパターンの直径は、親水性ポリマー411間のピッチをL0、親水性ポリマー11の半径をRとすると、2(L0−R)以下に設定されている。【選択図】図16
申请公布号 JP2017006863(A) 申请公布日期 2017.01.12
申请号 JP20150125766 申请日期 2015.06.23
申请人 東京エレクトロン株式会社 发明人 村松 誠;冨田 忠利;源島 久志;楊 元;北野 高広;西 孝典
分类号 B05D1/36;B05D3/00;B05D3/10;B82Y30/00;B82Y40/00;H01L21/027 主分类号 B05D1/36
代理机构 代理人
主权项
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