发明名称 電子機器の熱解析方法、及び熱解析装置
摘要 【課題】詳細な熱シミュレーションを、現実的な計算時間で実行可能とし、最適な放熱対策の設計を可能とする電子機器の熱解析方法、及び熱解析装置を提供する。【解決手段】電気機器の熱解析方法は、IC(104)を搭載したIC搭載基板(100)を熱解析する方法であって、IC上の回路を、回路の機能によるひとまとまりの回路要素ごとの複数のブロック(11〜13、21、22、31〜34、41,42、51、52、61〜63、71〜73)に分割する手順と、回路シミュレーション結果からブロックごとの発熱量を算出する手順と、IC上にレイアウトされた回路要素を、ブロックの何れかを含む複数のシート(A〜G)に分割する手順と、ブロックごとの発熱量をIC上に配置された複数の各シートに割り当て、シートごとの発熱量を算出する手順と、を備える。【選択図】図4
申请公布号 JP2017010248(A) 申请公布日期 2017.01.12
申请号 JP20150124652 申请日期 2015.06.22
申请人 株式会社デンソー 发明人 村上 嘉浩
分类号 G06F17/50 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
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