| 摘要 |
전자모듈 칩 자동화 검사장치에 대한 발명이 개시된다. 개시된 발명은: 베이스부와; 베이스에 설치되는 이동본체부와; 이동본체부와 연결되게 설치되고, 전자모듈 칩과 접촉되는 검사위치 또는 전자모듈 칩과의 접촉이 해제되는 대기위치로 이동 가능하게 구비되는 검사블록부와; 검사블록부를 이동본체부에 연결시키며, 제1방향 회동시 검사블록부를 대기위치로 이동시키고, 제2방향 회동시 검사블록부를 검사위치로 이동시키는 승강연결부와; 승강연결부를 제1방향으로 회동시키는 동력을 제공하는 제1이동부; 및 승강연결부를 제2방향으로 회동시키는 동력을 제공하는 제2이동부를 포함하고, 승강연결부는, 전후방향으로 회동 가능하도록 중앙측이 이동본체부에 힌지 결합되는 회전몸체와; 회전몸체의 전방측에 구비된 검사블록부를 회전몸체와 연결시키는 검사블록연결부와; 회전몸체의 후방측에 구비된 제1이동부를 회전몸체와 연결시키는 제1이동연결부; 및 회전몸체의 후방측에 구비된 제2이동부를 회전몸체와 연결시키는 제2이동연결부를 포함한다. |
