发明名称 |
纹影测量成像系统及方法 |
摘要 |
一种纹影测量成像系统和方法,该系统包括光源,用于输出光信号;以及沿所述光源输出光信号路径依次设置的第一聚焦透镜、狭缝光阑、第一准直透镜、流场观测区域、第二聚焦透镜、刀口、第二准直透镜、数字微阵列反射镜、汇聚透镜和单点光电探测器;压缩算法模块,其与单点光电探测器电信号连接,用于重构图像,通过对图像的纹影计算方法计算出观测流场的结构分布。本发明将压缩感知理论与纹影测量相结合,创造性的提出稀疏纹影测量方法,具有高通量、高信噪比、快速灵活的特点,适宜于常规光强、弱光、微弱光、超微弱光和单光子纹影测量方式,是一种大动态范围的稀疏纹影测量方法。 |
申请公布号 |
CN103884486B |
申请公布日期 |
2017.01.11 |
申请号 |
CN201410068835.0 |
申请日期 |
2014.02.27 |
申请人 |
中国科学院力学研究所 |
发明人 |
戴国亮;孙志斌;代斌;王静 |
分类号 |
G01M9/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01M9/06(2006.01)I |
代理机构 |
北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 |
代理人 |
胡剑辉 |
主权项 |
一种纹影测量成像系统,其特征在于,包括:光源,用于输出光信号;以及沿所述光源输出光信号路径依次设置的第一聚焦透镜、狭缝光阑、第一准直透镜、第二聚焦透镜、刀口、第二准直透镜、数字微阵列反射镜、汇聚透镜和单点光电探测器,流场观测区域位于第一准直透镜和第二聚焦透镜之间;压缩算法模块,其与单点光电探测器电信号连接,用于重构图像,通过对图像的纹影计算方法计算出观测流场的结构分布。 |
地址 |
100190 北京市海淀区北四环西路15号 |