发明名称 一种同步辐射X射线CT校轴系统及方法
摘要 本发明涉及一种同步辐射X射线CT校轴系统及方法,其中,所述系统包括样品调节装置以及X射线探测器,所述系统还包括:设置在所述二维倾角调节台上的第一角度传感器;设置在所述X射线探测器上的第二角度传感器;与所述第一、第二角度传感器连接的角度读出设备;与所述角度读出设备连接的校轴控制器;以及连接在所述校轴控制器与二维倾角调节台之间的倾角调节台控制器。本发明实现了当更换样品调节装置、更换X射线探测器或者前后移动X射线探测器时能够通过第一、第二角度传感器测量的绝对的角度值,直接调整样品调节装置中二维倾角调节台的二维倾斜角度的目的,从而直观、便捷地完成校轴过程,节省大量人力工时,并有效提高了校轴精度。
申请公布号 CN104374786B 申请公布日期 2017.01.11
申请号 CN201410706151.9 申请日期 2014.11.27
申请人 中国科学院上海应用物理研究所 发明人 佟亚军;杜国浩;彭冠云;王玉丹;陈敏;肖体乔
分类号 G01N23/04(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 邓琪;杨希
主权项 一种同步辐射X射线CT校轴系统,所述系统包括样品调节装置以及X射线探测器,其中,所述样品调节装置包括二维倾角调节台以及旋转台,所述二维倾角调节台具有X向转动轴以及与之垂直相交的Y向转动轴,其特征在于,所述系统还包括:设置在所述二维倾角调节台上的第一角度传感器,其具有与所述X向转动轴方向一致的第一角度测量轴以及与所述Y向转动轴方向一致的第二角度测量轴;设置在所述X射线探测器上的第二角度传感器,其具有与所述X射线探测器的探测面垂直的第三角度测量轴;其中,所述第一角度测量轴用以测量所述旋转台的转动轴的方向与X射线光束的方向之间的夹角作为投角数据,所述旋转台的转动轴的方向与所述X射线探测器的行方向之间的相对夹角定义为滚角;所述第二角度测量轴用以测量第一滚角数据,所述第三角度测量轴用以测量第二滚角数据,所述第一滚角数据与所述第二滚角数据之差定义为所述旋转台的转动轴的方向与所述X射线探测器的行方向之间的相对夹角;与所述第一、第二角度传感器连接的角度读出设备,其显示并向外输出所述投角数据以及第一、第二滚角数据;与所述角度读出设备连接的校轴控制器,其接收并将所述第一、第二角度传感器在CT实验系统调试完成时对所述旋转台的旋转轴的校轴后测得的标准的所述投角数据以及第一、第二滚角数据与所述第一、第二角度传感器在CT实验中测得的更新的所述投角数据以及第一、第二滚角数据进行比较,并向外输出相应的调节指令;以及连接在所述校轴控制器与二维倾角调节台之间的倾角调节台控制器,其根据所述调节指令控制所述二维倾角调节台调节二维倾斜角度,以使所述旋转台的旋转轴的方向与所述X射线光束的方向垂直,并与所述X射线探测器的行方向垂直。
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