基于二阶关联技术的弱测量新方法

摘要

本发明提供了一种基于二阶关联技术的弱测量新方法，包括：光学模块、电学模块和数据处理模块；其中，所述光学模块用于生成两路光信号；所述电学模块用于将光信号转换成电信号，以获得测量数据并存储；所述数据处理模块用于对所测量数据进行分析和处理，获得合适的弱测量的偏移量和弱放大值。本发明采用二阶关联技术，可以通过弱测量技术对晶体厚度这一参量进行弱放大，并且比传统弱测量放大的效果更好，放大倍数更高。因此，可以有效解决检测器分辨率和技术噪声的问题。

主权项

一种基于二阶关联技术的弱测量新方法，其特征在于，包括：步骤1：将光源分成完全相同的两光束，分别标记为信号光路和参考光路；步骤2：在信号光路中：将光束通过前选择后变成线偏振光，将线偏振光通过双折射晶体，由于双折射晶体的双折射效应，一束线偏振光会产生两束折射光线，分别为寻常光和非寻常光，其中，将偏振方向垂直于光轴的寻常光定义为V光，将偏振方向平行于光轴的非寻常光定义为H光；H光和V光再经过后选择，使H光和V光干涉；并通过带有空间分辨能力的探测器A接收；在参考光路中，利用带有空间分辨能力的探测器B接收；其中，所述带有空间分辨能力的探测器是指带有像素点的、能够成像的探测器；步骤3：通过探测器A和探测器B探测到的光测量数据，计算偏移量和弱放大值，其中，所述光测量数据即为光强值。