发明名称 | 一种卫星包装箱气密缺陷检测方法 | ||
摘要 | 本发明专利涉及一种卫星包装箱气密缺陷检测方法,包括以下四个步骤:(1)在卫星包装箱骨架与内蒙皮焊接后对箱体和箱盖的内蒙皮内表面进行着色探伤检测缺陷;(2)然后箱体箱盖合盖密封,箱内充气,通过检测外蒙皮外侧漏气点确定气密缺陷位置;(3)待整箱装配完毕后,整箱合盖后,箱内充气,检测各穿舱接头气密缺陷位置;(4)箱体和箱盖分离,分别向箱体和箱盖内夹层充气,检测箱体和箱盖内蒙皮缺陷位置。该方法能够完整的检测出影响卫星包装箱整体气密性的所有缺陷。 | ||
申请公布号 | CN106323563A | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
申请号 | CN201610725111.8 | 申请日期 | 2016.08.25 |
申请人 | 上海航天设备制造总厂 | 发明人 | 宋伟;王琛;廖传清;胡蓝 |
分类号 | G01M3/12(2006.01)I | 主分类号 | G01M3/12(2006.01)I |
代理机构 | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人 | 金家山 |
主权项 | 一种卫星包装箱气密缺陷检测方法,其特征在于,将卫星包装箱气密缺陷的检测分为四步穿插在包装箱整个生产过程中,具体包括:(1)在卫星包装箱骨架与蒙皮焊接后对箱体和箱盖内蒙皮的内表面进行着色探伤检测缺陷;(2)然后箱体箱盖合盖密封,箱内充气,通过检测外蒙皮外侧漏气点确定气密缺陷位置;(3)待整箱装配完毕后,整箱合盖后,箱内充气,检测各穿舱接头气密缺陷位置;(4)箱体和箱盖分离,分别向箱体和箱盖内夹层充气,检测箱体和箱盖内蒙皮缺陷位置。 | ||
地址 | 200245 上海市闵行区华宁路100号 |