| 发明名称 | 一种用于预测GPU性能的方法和相应的计算机系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于在设计阶段评估和预测GPU性能的方法，其包括：在有待评估的GPU芯片中运行一组测试应用程序；捕获一组标量性能计数器和向量性能计数器；基于所捕获的标量性能计数器和向量性能计数器针对不同芯片配置创建用于评估和预测GPU性能的模型；以及预测GPU芯片的性能分数并且识别GPU流水线中的瓶颈。此外，本发明还涉及一种用于在设计阶段评估和预测GPU性能的计算机系统。 | ||
| 申请公布号 | CN106326047A | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
| 申请号 | CN201510387995.6 | 申请日期 | 2015.07.02 |
| 申请人 | 超威半导体（上海）有限公司 | 发明人 | 杨建;罗忠祥;王国锦;汪磊;闫丽霞;邵平平 |
| 分类号 | G06F11/22(2006.01)I;G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/22(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人 | 樊英如;李献忠 |
| 主权项 | 一种用于评估和预测GPU性能的方法，其包括：‑在有待评估的GPU芯片中运行一组测试应用程序；‑捕获一组标量性能计数器和向量性能计数器；‑基于所捕获的标量性能计数器和向量性能计数器针对不同芯片配置创建用于评估和预测GPU性能的模型；以及‑预测GPU芯片的性能分数并且识别GPU流水线中的瓶颈。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区张东路1387号科技领袖之都（东区）第48幢 | ||