发明名称 Device for test socket with individual press conducting silicon rubber per wire
摘要 본 발명의 테스트 소켓은, PCB, 상기 PCB 상에 본딩 패드를 이용하여 연결되는 복수의 도전 와이어, 상기 도전 와이어가 수평 방향에서 일정하게 배열되고, 수직 방향으로 연장되는 단일 절연 실리콘 고무, 및 상기 절연 실리콘 고무 상에 성형되고, 상기 도전 와이어의 일부가 인서트 되어 가압 도전 커넥팅 하는 개별 도전 실리콘 고무를 포함한다. 이와 같은 본 발명의 구성에 의하면, 도전 와이어를 보호하여 제품 라이프 사이클이 길어진다.
申请公布号 KR101694507(B1) 申请公布日期 2017.01.11
申请号 KR20150144953 申请日期 2015.10.16
申请人 주식회사 오킨스전자 发明人 전진국;박성규
分类号 G01R1/04 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人
主权项
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