发明名称 | 一种晶体测试装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种晶体测试装置,包括:光源、升降装置、隔光板、检测电路板和硅油槽,所述升降装置设置在硅油槽一侧,所述隔光板位于硅油槽的上方,所述光源位于隔光板的上方,所述升降装置的输出端设置有与隔光板相连接的支撑杆,所述隔光板上设置有数个晶体固定孔,闪烁晶体条分别设置在晶体固定孔下部,所述检测电路板上设置有分别位于晶体固定孔下方的SiPM硅探测器。通过上述方式,本实用新型所述的晶体测试装置,把多个闪烁晶体条分别放置在隔光板内进行同时测试,工作效率高,SiPM硅探测器顶面与闪烁晶体条底面的间隙中填充有硅油,减少了误差,提升了测试的精度,操作灵活。 | ||
申请公布号 | CN205880235U | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
申请号 | CN201620615183.2 | 申请日期 | 2016.06.21 |
申请人 | 苏州晶特晶体科技有限公司 | 发明人 | 彭志豪;陈远帆;吴承;陈冠廷 |
分类号 | G01T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G01T7/00(2006.01)I |
代理机构 | 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 | 代理人 | 徐萍 |
主权项 | 一种晶体测试装置,用于闪烁晶体条的检测,其特征在于,包括:光源、升降装置、隔光板、检测电路板和硅油槽,所述硅油槽内设置有支撑架,所述检测电路板设置在支撑架上,所述升降装置设置在硅油槽一侧,所述隔光板位于硅油槽的上方,所述光源位于隔光板的上方,所述升降装置的输出端设置有与隔光板相连接的支撑杆,所述隔光板上设置有数个晶体固定孔,闪烁晶体条分别设置在晶体固定孔下部,所述检测电路板上设置有分别位于晶体固定孔下方的SiPM硅探测器。 | ||
地址 | 215400 江苏省苏州市太仓市城厢镇横四路 |