发明名称 一种晶体测试装置
摘要 本实用新型公开了一种晶体测试装置,包括:光源、升降装置、隔光板、检测电路板和硅油槽,所述升降装置设置在硅油槽一侧,所述隔光板位于硅油槽的上方,所述光源位于隔光板的上方,所述升降装置的输出端设置有与隔光板相连接的支撑杆,所述隔光板上设置有数个晶体固定孔,闪烁晶体条分别设置在晶体固定孔下部,所述检测电路板上设置有分别位于晶体固定孔下方的SiPM硅探测器。通过上述方式,本实用新型所述的晶体测试装置,把多个闪烁晶体条分别放置在隔光板内进行同时测试,工作效率高,SiPM硅探测器顶面与闪烁晶体条底面的间隙中填充有硅油,减少了误差,提升了测试的精度,操作灵活。
申请公布号 CN205880235U 申请公布日期 2017.01.11
申请号 CN201620615183.2 申请日期 2016.06.21
申请人 苏州晶特晶体科技有限公司 发明人 彭志豪;陈远帆;吴承;陈冠廷
分类号 G01T7/00(2006.01)I 主分类号 G01T7/00(2006.01)I
代理机构 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 代理人 徐萍
主权项 一种晶体测试装置,用于闪烁晶体条的检测,其特征在于,包括:光源、升降装置、隔光板、检测电路板和硅油槽,所述硅油槽内设置有支撑架,所述检测电路板设置在支撑架上,所述升降装置设置在硅油槽一侧,所述隔光板位于硅油槽的上方,所述光源位于隔光板的上方,所述升降装置的输出端设置有与隔光板相连接的支撑杆,所述隔光板上设置有数个晶体固定孔,闪烁晶体条分别设置在晶体固定孔下部,所述检测电路板上设置有分别位于晶体固定孔下方的SiPM硅探测器。
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