| 发明名称 | 安检设备 | ||
| 摘要 | 本实用新型提出一种安检设备，涉及辐射技术领域。本实用新型的安检设备包括：射线发射装置；背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间，用于获取背散射数据；尺寸距离检测装置，位于射线发射装置与待测物体之间，用于检测待测物体的尺寸和/或与尺寸距离检测装置的距离；方位调节装置，用于根据尺寸距离检测装置检测的待测物体的尺寸和/或与尺寸距离检测装置的距离调节射线发射装置的位置。这样的安检设备能够检测到待测物体的尺寸、位置信息，根据待测物体的尺寸、位置能够自动调节射线发射装置的位置，从而能够减少或避免产生探测死角，提高探测的准确度。 | ||
| 申请公布号 | CN205879830U | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
| 申请号 | CN201620840246.4 | 申请日期 | 2016.08.05 |
| 申请人 | 同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 陈志强;赵自然;崔锦;林东;胡斌;谭贤顺;王虹 |
| 分类号 | G01N23/203(2006.01)I;G01V5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/203(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 孙宝海 |
| 主权项 | 一种安检设备，其特征在于，包括：射线发射装置；背散射探测器，位于射线发射装置与待测物体之间，用于获取背散射数据；尺寸距离检测装置，位于射线发射装置与待测物体之间，用于检测所述待测物体的尺寸和/或与所述尺寸距离检测装置的距离；和，方位调节装置，用于根据所述尺寸距离检测装置检测的所述待测物体的尺寸和/或与所述尺寸距离检测装置的距离调节所述射线发射装置的位置。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 | ||