| 发明名称 | 一种耐电性能测试方法及系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种耐电性能测试方法及系统，耐电性能测试方法包括：确定待测印刷电路板，并为所述待测印刷电路板中的每一个导电叠层部署对应的导电叠层信号线；为所述待测印刷电路板设置至少一个过孔；为所述待测印刷电路板上的每一个过孔部署对应的过孔信号线；通过所述导电叠层信号线与所述过孔信号线，测试每一个导电叠层与过孔之间的电阻值。本发明实现了对印刷电路板中过孔与导电叠层之间的耐电性能进行测试。 | ||
| 申请公布号 | CN106324349A | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
| 申请号 | CN201610726449.5 | 申请日期 | 2016.08.25 |
| 申请人 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 发明人 | 孙龙;史书汉 |
| 分类号 | G01R27/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人 | 李世喆 |
| 主权项 | 一种耐电性能测试方法，其特征在于，包括：确定待测印刷电路板，并为所述待测印刷电路板中的每一个导电叠层部署对应的导电叠层信号线；为所述待测印刷电路板设置至少一个过孔；为所述待测印刷电路板上的每一个过孔部署对应的过孔信号线；通过所述导电叠层信号线与所述过孔信号线，测试每一个导电叠层与过孔之间的电阻值。 | ||
| 地址 | 250100 山东省济南市高新区浪潮路1036号 | ||