| 发明名称 | 一种FPGA系统的JTAG调试方法及系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种FPGA系统的JTAG调试方法及系统，包括：将多片FPGA芯片通过JTAG信号直接或间接地连接至不同调试需求所需的JTAG调试插座；根据调试需求，连通FPGA芯片与该调试需求所需的JTAG调试插座。本发明提供的FPGA系统的JTAG调试方法及系统，能够实现在多FPGA系统支持单片或多片FPGA芯片的JTAG调试。 | ||
| 申请公布号 | CN106326058A | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
| 申请号 | CN201510333355.7 | 申请日期 | 2015.06.16 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 陈华;刘如民;程海林 |
| 分类号 | G06F11/26(2006.01)I;G06F13/42(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 张建秀;栗若木 |
| 主权项 | 一种现场可编程门阵列FPGA系统的联合测试行动组JTAG调试方法，其特征在于，包括：将多片FPGA芯片通过JTAG信号直接或间接地连接至不同调试需求所需的JTAG调试插座；根据调试需求，连通FPGA芯片与该调试需求所需的JTAG调试插座。 | ||
| 地址 | 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 | ||