| 发明名称 | 半导体元件分类方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种半导体元件分类方法，包含：定义一承载装置上的多个半导体元件为多个分类区域；提供一选定作业，选定该多个分类区域其中之一分类区域为一第一分拣区域；提供一分拣作业，取出附着于该承载装置上的该第一分拣区域的一个或多个半导体元件；以及提供一翻转作业，取出附着于该承载装置上该多个分类区域的另一分类区域的一个或多个半导体元件。 | ||
| 申请公布号 | CN106311625A | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
| 申请号 | CN201510336366.0 | 申请日期 | 2015.06.17 |
| 申请人 | 晶元光电股份有限公司 | 发明人 | 关叡铉;江晟镒 |
| 分类号 | B07C5/34(2006.01)I | 主分类号 | B07C5/34(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 陈小雯 |
| 主权项 | 一种半导体元件分类方法，包含：定义一承载装置上的多个半导体元件为多个分类区域；提供一选定作业，选定该多个分类区域其中之一分类区域为一第一分拣区域；提供一分拣作业，取出附着于该承载装置上的该第一分拣区域的一个或多个半导体元件；以及提供一翻转作业，取出附着于该承载装置上该多个分类区域的另一分类区域的一个或多个半导体元件。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||