发明名称 |
一种伺服驱动器老化测试系统 |
摘要 |
本实用新型的目的在于提供一种伺服驱动器老化测试系统,该系统包括一台上位机和多层老化架,该上位机与各层老化架中的通信转换器依次串联连接,该伺服驱动器老化测试系统在老化时能够同时打开多个串口,从而能够同时批量老化所有老化架上的伺服驱动器,也能够针对老化架上的某个伺服驱动器进行单独老化,从而提高生产效率和质量,提高测试质量,记录测试数据和故障,便于问题分析和后期品质追溯,降低老化测试过程中人工和时间成本。 |
申请公布号 |
CN205880649U |
申请公布日期 |
2017.01.11 |
申请号 |
CN201620648638.0 |
申请日期 |
2016.06.27 |
申请人 |
清能德创电气技术(北京)有限公司 |
发明人 |
袁丹丹;黄建国;刘波 |
分类号 |
G05B23/02(2006.01)I |
主分类号 |
G05B23/02(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种伺服驱动器老化测试系统,该系统包括一台只运行一个监控软件的上位机和多层老化架,该系统的特征在于:该上位机与第一层的通信转换器直接连接,第一层的通信转换器连接有第二层的通信转换器,第二层通信转换器连接有第三层通信转换器,依次串联,直到连接到第n层。 |
地址 |
100070 北京市丰台区外环西路26号院15号楼北栋 |