发明名称 XRD APPARATUS FOR IN-SITU OBSERVATION OF PHASE TRANSITIONS OF PIEZOELECTRIC POLYMER FILMS DURING STRETCHING XRD SYSTEM USING THEREOF
摘要 본 발명은 PVDF 필름과 같은 압전 고분자 필름에 스트레칭을 인가한 상태에서 실시간으로 상전이 측정을 위한 In-situ XRD용 스트레칭 장치에 관한 것이다. 이를 위하여 압전 고분자 필름인 샘플의 적어도 일단이 삽입고정되고, 샘플에 텐션이 적용될 수 있도록 구성되는 텐션부;를 포함하고, 샘플을 특정 연신률만큼 스트레칭시킨 채로 샘플의 상전이 측정을 위한 장비에 장착되는 것을 특징으로 하는 압전 고분자 필름의 스트레칭에 따른 상전이 측정을 위한 스트레칭 장치가 제공될 수 있다. 이에 따르면 압전 고분자 필름의 스트레칭에 의한 상전이를 In-situ로 측정할 수 있는 효과가 있다.
申请公布号 KR101694589(B1) 申请公布日期 2017.01.10
申请号 KR20140150337 申请日期 2014.10.31
申请人 한국표준과학연구원 发明人 김용일;김미소
分类号 G01N1/36;G01N23/223 主分类号 G01N1/36
代理机构 代理人
主权项
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