| 摘要 |
본 발명은 낙추식 계장화 샤르피 충격 시험 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 충분한 길이를 가진 충격봉을 하방 수직으로 자유 낙하시키면서 재료에 충격하중을 가하여 충격하중에 의해 발생하는 굽힘변형에 따른 재료의 굽힘변형 및 파괴거동을 측정 및 평가하기 위한 낙추식 계장화 샤르피 충격 시험 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 브이-노치 샤르피 시험편을 이용하는 샤르피 충격 시험 장치에 있어서, 베이스판; 상기 베이스판의 상부에 설치되고 상부 양측에 지지단이 각각 상방으로 돌출되며 상기 지지단의 상부에 상기 브이-노치 샤르피 시험편의 양단을 지지하는 앤빌이 설치되는 시험편지지대; 상기 시험편지지대의 상부에서 견인수단에 의해 상방 수직으로 견인되는 전자석; 상기 전자석에 자착되어 상기 전자석의 자력 상실에 의해 하방 수직으로 자유낙하하면서 상기 브이-노치 샤르피 시험편에 3점 굽힘 부하 형태로 충격력을 가하여 상기 브이-노치 샤르피 시험편을 굽힘 변형 및 파괴하는 충격봉; 및 상기 충격봉의 하단 양측에 설치되어 상기 브이-노치 샤르피 시험편의 굽힘 변형 및 파괴에 따른 동적 하중신호를 검출하는 하중신호검출센서;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 낙추식 계장화 샤르피 충격 시험 장치를 기술적 요지로 한다. |
