| 摘要 |
본 발명은 1) 고분자의 일부를 냉동 절편기(Cryo-microtome)로 절단하여 고분자 지지체를 만드는 단계; 2) 고분자의 일부를 냉동 절편기로 절단하여 고분자 조각을 만드는 단계; 및 3) 상기 고분자 조각을 상기 고분자 지지체 상단에 위치시키는 단계를 포함하는 X-선 3D 영상 분석용 고분자 시료 제작 방법에 관한 것으로, 본 발명에서 제공하는 고분자 시료 제작 방법에 따르면 20 ㎛이상의 크기를 갖는 시료를 조건에 맞게 제작할 수 있으며, 시료 제작이 단시간 내에 가능하여 간편하고도 경제성이 있으며, 시료에 맞는 유리 전이 온도(Tg) 조절이 가능한 장점이 있다. |
