发明名称 位相差顕微鏡、位相差顕微鏡の制御装置及び位相差顕微鏡の制御方法
摘要 観察対象物による位相差像への光学的影響を解消することが可能な位相差顕微鏡、位相差顕微鏡の制御装置及び位相差顕微鏡の制御方法を提供する。本技術に係る位相差顕微鏡(100)は、位相リング(110)と、開口リング(106)と、コンデンサレンズ(107)とを具備する。開口リング(106)は、位相リング(110)に対して、第1の方向(Z方向)に移動可能である。コンデンサレンズ(107)は、位相リング(110)に対して、開口リング(106)とは独立して第1の方向(Z方向)に移動可能である。
申请公布号 JPWO2014091661(A1) 申请公布日期 2017.01.05
申请号 JP20140551841 申请日期 2013.10.29
申请人 ソニー株式会社 发明人 堂脇 優;辰田 寛和
分类号 G02B21/00 主分类号 G02B21/00
代理机构 代理人
主权项
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