发明名称 Leistungstransistoren mit MOS-Gate und konstruierter Bandlücke
摘要 Transistor mit MOS-Gate (1540), umfassend: einen Body-Bereich (1520), welcher an einen Trench angrenzt; einen Source-Bereich (1510), welcher an den Trench angrenzt und einen ersten pn-Übergang mit dem Body-Bereich (1520) festlegt; einen Drain-Bereich (1530), der an den Trench angrenzt und einen zweiten pn-Übergang mit dem Body-Bereich (1520) festlegt; eine Schicht von leitfähigem Material (1534), welche vertikal entlang einer Seitenwand des Trench angebracht ist und welche an zumindest einen Teil des Body-Bereichs (1520) angrenzt, wobei die Schicht (1534) eine niedrigere Energielücke als der Drain-Bereich (1530) aufweist und wobei sich die Schicht (1534) auch durch den Source-Bereich (1510) erstreckt; einen Kanalbereich, welcher zumindest einen Teil der Schicht (1534) beinhaltet; und ein Gate (1540), das im Trench zwischen dem Source-Bereich (1510) und dem Drain-Bereich (1530) angebracht ist, wobei der Kanalbereich gegen das Gate (1540) durch ein Gate-Dielektrikum (1570) isoliert ist, und wobei der Kanalbereich ferner eine Siliziumdeckschicht (1532) beinhaltet, welche zwischen der Schicht (1534) und dem Gate-Dielektrikum (1570) angebracht ist.
申请公布号 DE112005002418(B4) 申请公布日期 2017.01.05
申请号 DE20051102418T 申请日期 2005.10.07
申请人 Fairchild Semiconductor Corporation 发明人 Dolny, Gary;Wang, Qi;Ho, Ihsiu
分类号 H01L29/78;H01L29/165 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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