| 摘要 |
【課題】本発明は、被測定光ファイバの片端のみを用いて高感度にブリルアン散乱が測定可能な光ファイバのブリルアン散乱測定装置及びその方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明は、プローブ光発生用パルスＰ１の後にポンプパルスＰ２が続くパルス列を生成する光パルス発生部と、パルス列を被測定光ファイバ２へと入射するとともに、被測定光ファイバ２におけるパルス列の後方散乱光を分離する光サーキュレータ１４と、光サーキュレータ１４で分離された後方散乱光の波形を用いて、被測定光ファイバ２におけるブリルアン散乱を測定する演算処理部１８と、を備える。【選択図】図１ |
