| 摘要 |
【課題】その誤差を測定可能な温度センサを提供する。【解決手段】電圧生成部１１０は、制御ビットｂ１に応じて、ＣＴＡＴ特性を有する第１電圧ＶｆとＰＴＡＴ特性を有する第２電圧ΔＶｆを切りかえて生成する。積分回路１２０は、制御ビットｂ２に応じて、それ自身の入力電圧に第１係数αを乗算した値を積算し、または、それ自身の入力電圧に第２係数βを乗算した値を積算する。量子化器１３０は、積分回路１２０の出力を量子化し、ビットストリームｂｓを生成する。パターン発生器１４０は、所定のデューティ比を有するテスト信号ｔｓを生成する。減算回路１５０は、ビットストリームｂｓに応じて、電圧生成部１１０の出力電圧から校正用の基準電圧ＶＥＸＴを減算する。校正モードにおいて、テスト信号ｔｓが制御ビットｂ１、ｂ２として電圧生成部１１０および積分回路１２０に入力される。【選択図】図３ |
