发明名称 |
物体の2次元または3次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法 |
摘要 |
【課題】2次元または3次元の物体位置調整のための高解像度顕微鏡および方法を提供する。【解決手段】以下の方法ステップa)からo)の1つを含む。a)非球面レンズを用い粒子等の垂直位置を検出b)異なる光路長の2つの検出ビームが検出器上でずらして検出されるc)活性化等を多光子励起プロセスによって行うd)点走査の活性化等を行うe)線走査の活性化等を行うf)試料の励起/試料光の検出を広視野モードで行うg)既定の試料範囲が活性化/切替られるh)活性化/切替をAOTF等で行うi)格子によりーザパルスがスペクトル分割されるj)SLM等が格子後方レーザパルスの選択を行うことk)レーザ広視野励起は、SLM等によるl)ROIがSLM等によって選択されるm)多光子切替等を円柱レンズアレイによって行うn)切替/励起を線走査で行うo)線検出を複数のセンサから成る、2つのセンサ列を備えたスリット絞りの調整によって行う。【選択図】 なし |
申请公布号 |
JP2017004024(A) |
申请公布日期 |
2017.01.05 |
申请号 |
JP20160191256 |
申请日期 |
2016.09.29 |
申请人 |
カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCARL ZEISS MICROSCOPY GMBH |
发明人 |
カルクブレナー、トーマス;ヴォレシェンスキー、ラルフ |
分类号 |
G02B21/00;G01N21/64;G02B21/26 |
主分类号 |
G02B21/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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