发明名称 対応点探索方法および距離測定装置
摘要 【課題】複数の画像間の対応点を探索する対応点探索方法において、利用する画像に拘わらず、より精度よく対応点の探索ができるようにする。【解決手段】本発明の対応点探索方法においては、予め設定された第1の手法を用いて複数の画像のうちの基準画像中の画素毎に複数の画像間の対応点を探索する。また、第1の手法とは異なる第2の手法を用いて複数の画像のうちの基準画像中の画素毎に複数の画像間の対応点を探索する。そして、第1の手法において利用した基準画像を複数に区分した区分領域毎に、第1の手法による対応点の探索精度が基準値以上であるか否かを判定する(S430)。さらに、探索精度が基準値以上である区分領域にて前記第1の手法による対応点を採用し、探索精度が基準値未満である区分領域にて第2の手法による対応点を採用することで、複数の画像間の対応点を設定する(S420,S440)。【選択図】図10
申请公布号 JP2017003281(A) 申请公布日期 2017.01.05
申请号 JP20150114134 申请日期 2015.06.04
申请人 株式会社日本自動車部品総合研究所;株式会社デンソー;学校法人トヨタ学園 发明人 石丸 和寿;白井 孝昌;テヘラニニキネジャド ホセイン;三田 誠一;ロン チャン;シェ チーウェイ
分类号 G01C3/06;G01B11/00 主分类号 G01C3/06
代理机构 代理人
主权项
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