发明名称 三次元計測装置、三次元計測装置の制御方法及びプログラム
摘要 【課題】被検物の三次元形状を高速且つ高精度に計測する。【解決手段】パターンが投影された被検物を撮影して得られた画像に基づいて被検物の三次元形状を計測する三次元計測装置であって、第1の撮影条件及び第2の撮影条件でそれぞれ取得された前被検物の第1の画像及び第2の画像を、パターンを投影するための光源による単位時間当たりの露光量及び当該露光量に対応する輝度値の大小関係が、第1の画像及び第2の画像の間で保持されるように合成する合成部と、合成部により合成された画像に基づいて被検物の三次元形状を計測する計測部とを備える。【選択図】 図2
申请公布号 JP2017003469(A) 申请公布日期 2017.01.05
申请号 JP20150118605 申请日期 2015.06.11
申请人 キヤノン株式会社 发明人 中島 匡貴
分类号 G01B11/25;G06T1/00;G06T5/50 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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